UVLED固化設(shè)備光強(qiáng)度測(cè)量問題分析

在使用UVLED固化設(shè)備時(shí)，許多客戶依賴于廠商標(biāo)稱值作為光強(qiáng)度的參考標(biāo)準(zhǔn)。一些更詳細(xì)的客戶可能會(huì)購(gòu)買專門用于測(cè)量和監(jiān)視UVLED固化設(shè)備光強(qiáng)度的設(shè)備。然而，光強(qiáng)度的測(cè)量是一個(gè)常被忽略的復(fù)雜任務(wù)。

復(fù)坦希電子科技技術(shù)在產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)和實(shí)際應(yīng)用過程中總結(jié)了對(duì)實(shí)際測(cè)試結(jié)果有影響的三個(gè)主要因素，供大家參考：

1. 測(cè)量高度和范圍的影響 通過圖1可以更準(zhǔn)確地說明UVLED芯片的測(cè)量結(jié)果與其位置之間的差異。從測(cè)量結(jié)果可以看出，UVLED芯片的光強(qiáng)度可達(dá)到70W/cm2；然而，在將包裝和石英玻璃分離后，在高度為5mm的位置測(cè)量時(shí)，光強(qiáng)度僅為4W/cm2。這種差異足以引起客戶的注意。因此，事先了解所謂的光強(qiáng)度測(cè)試高度是非常必要的。

2. 測(cè)量工具（輻射計(jì)）的范圍和閾值 圖2取自復(fù)坦希電子科技點(diǎn)光源XP104的產(chǎn)品信息，清晰地說明了光強(qiáng)度不僅與測(cè)試高度有關(guān)，而且與測(cè)試位置也有很大關(guān)系。對(duì)于UVLED點(diǎn)光源而言，中心點(diǎn)的光強(qiáng)度**強(qiáng)，而向邊緣逐漸減小。面光源的情況類似，中間位置可能相對(duì)均勻，但是邊緣位置的光強(qiáng)度會(huì)降低。

3. 測(cè)量工具之間的差異 不同測(cè)量工具之間存在一定的差異，這也會(huì)對(duì)光強(qiáng)度的測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。因此，在選擇測(cè)量工具時(shí)，需要考慮其范圍和閾值等因素。

復(fù)坦希電子科技技術(shù)，致力于提供可靠的數(shù)據(jù)、事實(shí)和技術(shù)，以滿足客戶對(duì)UVLED固化設(shè)備光強(qiáng)度的需求。我們考慮了許多因素，以確保為客戶提供**適合的產(chǎn)品。將這些細(xì)節(jié)交給我們，我們將憑借我們的技術(shù)專長(zhǎng)為您的產(chǎn)品提供更好的支持。